玉米株高测量仪服务热线
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产品介绍：
水稻育种研究中，水稻表型参数至关重要，水稻表型检测仪可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决水稻的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。
测量范围和误差：
1、水稻亩穗数测量误差：≤±5%
2、稻穗形态测量范围：5~20cm
穗长误差：±2%
小穗数误差：≤ 3个
水稻夹角测量范围：0-180°
作物茎粗：0-5.2cm
夹角测量误差：+5%
4、作物茎粗测量误差：±1mm
5、千粒重测量误差：±2%
6、株高测量范围：0.1-1.5m，测量误差：±1mm；
水稻表型检测仪也称水稻亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量水稻的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为水稻的品种筛选、水稻产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。水稻产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成，穗数是水稻产量重要构成要素之一，快速、准确地获取水稻穗数和千粒重对智能测产意义重大。
1、外形尺寸：水稻亩穗数740mm*740*(620~1500)mm
2、标定杆可上下伸缩调节高度
3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm
4、图像分辨率：1600*720
5、摄像头：1300W像素
2.1.3测量误差
1、水稻亩穗数误差<±5%。
2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。
2.1.4适用范围
1、稻穗检测合适时期：水稻灌浆期至成熟前期的水稻
2、千粒重可测量水稻种子的数量和千粒重
上一产品：HT-XMG-I作物株高测量仪
下一产品：HT-DS-I水稻亩穗数测量仪
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